La microscopía
de fuerza atómica (AFM) es una técnica extremadamente sensible que nos permite
observar la topografía de materiales y caracterizar sus propiedades físicas con
resolución atómica, detectando el carácter vectorial de la fuerza sobre la
superficie del material. El uso del AFM más generalizado es el estudio de las
propiedades físicas a nivel de nanoescala, poniendo el mayor interés en la
componente normal a la superficie estudiada. Sin embargo, para estudiar
interacciones entre los átomos en la superficie de los materiales se requiere
de un conocimiento preciso de las fuerzas medidas como vectores
tridimensionales.
Un grupo de la
Universidad de Osaka, en Japón, en colaboración con un grupo del Instituto de Física
de Eslovaquia desarrollaron un "AFM bimodal" para obtener información
sobre las superficies de los materiales en las direcciones X, Y y Z con
resolución atómica. Los investigadores midieron la fuerza total entre una punta
AFM y la superficie de un sustrato de germanio.
Los resultados fueron recientemente publicados en Nature
Physics (2017).
Mas información en Nanotechnology
World.
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