Con el fin de responder a la demanda de mayor
resolución espacial y sensibilidad química, un grupo de investigadores del Instituto de Ciencia y
Tecnología de Luxemburgo, están desarrollando instrumentación y metodologías
enfocadas hacia un nuevo tipo de
microscopía correlativa. Combinan la capacidad para producir imágenes de alta
resolución de la microscopía electrónica de transmisión (TEM), de la
microscopía de iones de He (HIM) y de la microscopía de barrido por microsonda
(SPM) con el alto desempeño y
sensibilidad química únicas que ofrece la espectroscopía de masas de iones
secundarios (SIMS). Este tipo de técnicas nanoanalíticas que ofrecen tanto
resolución espacial como información química con gran sensibilidad son de la
mayor importancia para la investigación de materiales en la nanoescala.
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