Una nueva técnica de microscopía multimodal de barrido que emplea rayos-X duros ha sido desarrollada en el National Synchrotron Light Source II del Brookhaven National Laboratory por investigadores del laboratorio y de otras universidades de EUA. La microscopía desarrollada utiliza un haz coherente y monocromático de alta energía (12 keV), que permite lograr imágenes con una alta resolución espacial de 10 nm. Varias técnicas se usan para caracterizar y verificar el área focalizada y la resolución de la imagen. Lo multimodal de la técnica consiste en un análisis simultáneo de contraste de absorción, fase y fluorescencia. Esta técnica tiene gran potencial de aplicación en la ciencia de materiales, y particularmente en la nanociencia y el desarrollo de nanotecnología.
Los resultados fueron publicados recientemente en Nano Futeres del IOP
No hay comentarios.:
Publicar un comentario