Superioridad de las puntas de sonda de AFM hechas con nanoalambres de GaN
La microscopía de fuerza atómica (AFM del
inglés) se ha convertido en una de las técnicas más empleadas en la evaluación
de materiales nanoestructurados con gran aplicación en fabricación de circuitos
integrados, nanobiotecnología, energía renovable, entre otros, así como en la
caracterización de materiales bajo investigación.
Investigadores del National Institute of Standards
and Technology, han
demostrado que las nuevas puntas de sonda de AFM hechas con nanoalambres casi
perfecto de GaN son superiores a las tradicionales puntas de sonda de silicio o
platino. Estas puntas de nanoalambres pueden ser empleadas simultáneamente como
sonda mecano-eléctrica y como LEDs permitiendo una iluminación de una región
más pequeña de la muestra. Con ello, aumenta la resolución de la medida y la
vida útil de la punta en más de 10 veces respecto a las puntas comerciales.
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