Imágenes en la nanoescala con microscopía óptica de campo cercano libre de lentes
La microscopía óptica convencional tiene el inconveniente de que los fenómenos de difracción limitan su resolución a algunos cientos de nanómetros, aproximadamente a la mitad de la longitud de onda de la luz que se utiliza para iluminar la muestra. Para superar ese límite, se construyeron los microscopios ópticos de barrido de campo cercano, (SNOM, por Scanning Near Field Optical Microscope). Un grupo de investigadores de Estados Unidos reportaron un nuevo diseño que incluye el nanoenfoque del haz incidente con el 50% del espectro de luz visible y utiliza un nanoalambre acoplado a la fibra óptica como punta para el barrido del SNOM. A la vez colecta todo el espectro de la luz reflejada con resolución espacial nanométrica. Este nuevo dispositivo puede acoplarse con un microscopio electrónico de barrido de efecto túnel (STM por Scanning Tunneling Microscope), demostrando que puede lograrse una resolución de 1 nm, validado in situpor Espectroscopía Raman Amplificada en la Superficie (SERS, por Surface Enhanced Raman Spectroscopy). Así, se correlaciona la información espectroscópica, la estructural y la generación de imágenes con resolución espacial muy competitiva con otras técnicas.
Esto fue publicado recientemente en Nature Photonics.
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